สไลด์โชว์ กรมวิทย์ฯเร่งพัฒนาเครื่องตรวจเด็กดาวน์-ลดพิการแรกเกิด

[b]กรมวิทย์ฯ เร่งพัฒนาการตรวจกลุ่มอาการดาวน์ หวังลดอัตราเด็กพิการตั้งแต่แรกเกิด คาด 6 เดือนเสร็จ นพ.อภิชัย มงคล อธิบดีกรมวิทยาศาสตร์การแพทย์ กระทรวงสาธารณสุข(สธ.) กล่าวว่า[/b] กรมวิทย์ ได้ร่วมกับ คณะแพทยศาสตร์ รพ.รามาธิบดี มหาวิทยาลัยมหิดล และ สำนักงานหลักประกันสุขภาพแห่งชาติ (สปสช.) ทำโครงการการพัฒนาการตรวจวินิจฉัยกลุ่มอาการดาวน์ ด้วยวิธีใหม่ที่ไม่ต้องเพาะเลี้ยงเซลล์ โดยได้นำเข้าเครื่องมือและน้ำยามาจากต่างประเทศ แบบชุดทดสอบมา [b]แต่การแปรผลให้แม่นยำเข้ากับคนไทยจำเป็นต้องมีการทดสอบเพื่อปรับค่าโดยผ่านกระบวนการทดสอบก่อน ซึ่งคาดว่าจะสามารถเสร็จภายใน 6 เดือน[/b] โดยความร่วมมือได้ทำกับมหาวิทยาลัยในภูมิภาคต่างๆด้วย คาดว่าจะสามารถทดสอบกับกลุ่มตัวอย่างได้ประมาณ 400-500 ราย ซึ่งถือว่าเพียงพอ ตราสัญลักษณ์ กรมวิทยาศาสตร์การแพทย์ กระทรวงสาธารณสุข(สธ.)